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      產品展示 / products 您的位置:網站首頁 > 產品展示 > 電子電工儀器 > 測量儀表 > DL10-STZ-4簡易四探針測試儀 數字式四探針測試儀 四探針電阻測量儀

      簡易四探針測試儀 數字式四探針測試儀 四探針電阻測量儀

      簡要描述:簡易四探針測試儀 數字式四探針測試儀 四探針電阻測量儀,是二量程的電阻測量儀器,配以手持式測試頭或座式測試架,可用來測量片狀,柱狀,或塊狀,電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內的半導體材料。(客戶根據不同的要求可以選擇不同的量程,Z小可以測量0.0001ΩZ大可以測量100000Ω,根據電流檔定精度)通過對恒流源的調整,可以對某些測量結果進行修整,例如對普通硅材料的測試結果要乘以0.628的探險

      產品型號: DL10-STZ-4

      所屬分類:測量儀表

      更新時間:2024-12-08

      廠商性質:生產廠家

      詳情介紹

      簡易四探針測試儀 數字式四探針測試儀 四探針電阻測量儀

      型號:DL10-STZ-4

      數字式四探針測試儀,是二量程的電阻測量儀器,配以手持式測試頭或座式測試架,可用來測量片狀,柱狀,或塊狀,電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內的半導體材料。(客戶根據不同的要求可以選擇不同的量程,zui小可以測量0.0001Ωzui大可以測量100000Ω,根據電流檔定精度)通過對恒流源的調整,可以對某些測量結果進行修整,例如對普通硅材料的測試結果要乘以0.628的探險頭修正系數,對硅材料薄層擴散和導電薄膜 “方塊電阻“ 的修正系數為4.53等均可通過調正恒流電流加以處理。SZT-4數字式四探針測試儀,體形小巧,操作方便,量程適中,十分適於對重煉回料的分選。

      簡易四探針測試儀 數字式四探針測試儀 四探針電阻測量儀

      本儀器工作環境條件為:

        溫  度:18℃―25℃

      相對濕度:60%-80%

      工作室內應無強電場干擾,不與高頻設備共用電源。

      二,技術參數

      1,測量范圍

      電 阻 率 0.01-200Ω-cm

      方塊電阻 0.01-200Ω-口

      電 阻 0.01-200.0

      2,數字電壓表

      (1)量 程 : 200mV單一量程

      (2)誤 差: 讀數 ±0.2%±3字

      (3)輸入電阻 : >10MΩ

      3,恒 流 源

      (1)電流輸出 0~10mA連續可調

      (2)量 程 1mA, 10mA

      (3)誤 差 ±0.2%±3字,

      4,手持式四探針測試頭

      (1)探 針 間 距:: 1mm

      (2)探針機械游移率: ±1.0%

      (3)探 針 材 料: 碳化鎢,φ0.

      (4)壓力: zui大 2Kg

      5,電源:

      220V±10%:50Hz

      功耗:  5W

      6,外形尺寸;

      7,使用方法:取出儀器平放於桌上,將三芯電源線接入儀器的電源插座中,并接通交流電壓(220V),再將測試探頭的插頭插入相應的插座中,按下電源開關使儀器得電,儀器上的數字電壓表就有讀數顯示,如果面板上的二個功能開關全部處於彈出狀態,則二個開關旁邊的“調整”指示燈和:“1mA”指示燈將被點亮,此時旋轉電流調節旋鈕電壓表讀數就會發生有規則的變化,這說明儀器已經可以正常工作。

      下一步就可以跟據測試的須要對電流進行調整。電流調整應該將電流開關放在10mA的位置上。

      8,電流調整 :

      (1)半導體(硅)材料的電阻率測試:

      在10mA電流量程上將電流調到6.28mA,相當于在10mA電流情況下測得的結果,乘以探頭修正系數0.628。

      由於恒流源的調整,1mA和10mA是同步的,在`10mA調準以后1mA量程同樣包含有這個修正系數。

      (2)半導體(硅)材料薄層擴散,玻璃或塑料的薄導電鍍復層的方塊電阻 測試:

      在10mA電流量程上將電流調至4.53mA, 測得結果乘以10,就是方塊電阻。

      (3)電阻測試:

      電阻測試不能使用探頭,必須換用帶有鱷魚夾子的四線插頭

      “電阻測試線”(選配件)。電流調到10mA,電壓表的顯示值

      就是電阻值,不用修正。

      (4)在做好測試前的準備工作之后,取下探頭保護蓋,將探頭壓在被測工件上,使四根探針和工件保持良好接觸,

      使用時的注意事項;

      (1) 保護蓋取下后一定要保存好,用畢仍要蓋好,以防探針損壞。

      (2) 儀器操作時,應備戴乾燥手套,操作場地,桌椅均應保持乾燥。

      (3) 在被測材料外形尺寸允許的情況下,建議使用臺式測試架(選購件),可使測試精度和穩定性都會有所提高。

      (4) 對於被測工件為片狀其厚度<3.49毫米時,還應對測試結果進行厚度修正,修正參數見參數表,附錄`1A和附錄1B 。

      (5) 附錄2,是對片狀工件外形(園形,矩形)和測量位置的修正參數表。



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